Metodo elettromagnetico (FDEM) – DUAL EM

Le esplorazioni elettromagnetiche sono finalizzate all’individuazione di zone caratterizzate da valori anomali di conduttività elettrica. Esiste una notevole varietà di metodi elettromagnetici ed esistono numerose classificazioni per poterli suddividere; ognuno di questi metodi si basa sulle misurazioni di una o più componenti del campo elettromagnetico indotto nel terreno da un campo primario. Il campo primario, generato da una sorgente naturale o da una corrente alternata artificiale, si propaga nel terreno sottostante inducendo delle correnti nel semispazio conduttore. A loro volta, le correnti così prodotte generano un campo secondario che distorce il campo primario e che, differendo in intensità, fase e direzione da quest’ultimo, indica la presenza di conduttori nel sottosuolo.

Il metodo elettromagnetico FDEM consiste nell’inviare nel sottosuolo attraverso una bobina trasmittente (Tx) un campo elettromagnetico primario, che induce una circolazione di corrente. Tale circolazione di corrente genera nel semispazio investigato un campo elettromagnetico, detto “secondario”, la cui intensità è proporzionale alla conduttività elettrica del mezzo attraversato.
La bobina trasmittente (Tx) immette nel terreno un campo EM detto primario; dal campo totale misurato alla bobina ricevente (Rx) otterremo il campo secondario dovuto alla variazione di corrente indotta. A parità di campo elettromagnetico primario indotto nel sottosuolo, l’intensità del campo secondario sarà tanto più elevata quanto più alta sarà la conduttività del mezzo attraversato. Del campo secondario sono considerate le componenti in quadratura e in fase rispetto al campo elettromagnetico trasmesso.

La componente in fase rispetto al campo primario, misurata in parti per migliaia (ppm), è generalmente indice della presenza di strutture metalliche (conduttive e suscettive) che amplificano notevolmente la risposta del sottosuolo.

Nel caso di bassi valori del numero di induzione, il rapporto tra la componente in quadratura del campo magnetico secondario e il campo magnetico primario può considerarsi direttamente proporzionale alla conducibilità elettrica apparente.

Dual EM è uno strumento modulare che consente di effettuare misure EM FDEM da 2 m fino a 10 metri di profondità dal pc. I sensori sono brevettati e non richiedono calibrazione. I dati acquisiti possono essere invertiti mediante uno specifico software dedicato. Le caratteristiche principali di questa innovativa strumentazione sono: struttura tubolare di piccolo diametro; configurazione modulare a scelta tra corta, media o lunga in funzione della profondità di esplorazione richiesta; fino a tre coppie di ricevitori posti a distanza e disposizione dipolare variabile rispetto al trasmettitore; sensori brevettati che non richiedono calibrazione in fase di pre-acquisizione; capacità di esplorazione simultanea a 1, 2, 3, 6 e 10 m dal p.c.; GPS Integrato all’interno.